取消
清空記錄
歷史記錄
清空記錄
歷史記錄
VI 2K AOI 光學檢測儀 配備全息散射器的RGB照明燈以及12位-8M像素的CCD相機,并配備遠心透鏡 2. 可以檢測01005元件及各種異性元件,檢測速度可以達到100cm2/s,每小時可以檢測組件480 000 3. 高精度線性電機1μM以及4.75μM子像素技術(shù)
VI 2K AOI光學檢測機簡介
1. 配備全息散射器的RGB照明燈以及12位-8M像素的CCD相機,并配備遠心透鏡
2. 可以檢測01005元件及各種異性元件,檢測速度可以達到100cm2/s,每小時可以檢測組件480 000
3. 高精度線性電機1μM以及4.75μM子像素技術(shù)
4. 編程簡單且程序完全可移植行,在返修站提供超高質(zhì)量的圖像
5. 使用大型并行計算模式(圖像處理單元)使得檢測效率大幅提升
6. 在MELF元件和像管腳浮起、側(cè)立、立碑、虛焊等特殊不良的檢出覆蓋率大為改善
7. 外形緊湊占地面積小
VI 2K AOI 光學檢測儀 配備全息散射器的RGB照明燈以及12位-8M像素的CCD相機,并配備遠心透鏡 2. 可以檢測01005元件及各種異性元件,檢測速度可以達到100cm2/s,每小時可以檢測組件480 000 3. 高精度線性電機1μM以及4.75μM子像素技術(shù)
VI 2K AOI光學檢測機簡介
1. 配備全息散射器的RGB照明燈以及12位-8M像素的CCD相機,并配備遠心透鏡
2. 可以檢測01005元件及各種異性元件,檢測速度可以達到100cm2/s,每小時可以檢測組件480 000
3. 高精度線性電機1μM以及4.75μM子像素技術(shù)
4. 編程簡單且程序完全可移植行,在返修站提供超高質(zhì)量的圖像
5. 使用大型并行計算模式(圖像處理單元)使得檢測效率大幅提升
6. 在MELF元件和像管腳浮起、側(cè)立、立碑、虛焊等特殊不良的檢出覆蓋率大為改善
7. 外形緊湊占地面積小